補(bǔ)強(qiáng)劑成分檢測(cè)及配方分析
成都中科溯源檢測(cè)技術(shù)有限公司
2025-06-05 10:50:03


一、關(guān)鍵分析技術(shù)與方法
(一) 成分與元素分析
熱重分析 (TGA): 核心的定量手段!
X射線(xiàn)熒光光譜 (XRF): 無(wú)機(jī)成分快速篩查利器!
(二) 物理結(jié)構(gòu)與形貌表征
掃描電子顯微鏡 (SEM):
X射線(xiàn)衍射 (XRD):
激光粒度分析 (LPS/DLS):
(三) 表面性質(zhì)分析
紅外光譜 (FTIR):
表面官能團(tuán)鑒定: 炭黑(-OH, C=O, -COOH 峰),白炭黑(Si-OH, Si-O-Si 峰)。
表面改性劑分析: 檢測(cè)硅烷偶聯(lián)劑 (Si-O-C, Si-C, 有機(jī)基團(tuán)特征峰)、脂肪酸酯/鹽 (C=O, CH?/CH?) 的存在及反應(yīng)情況。常需使用漫反射 (DRIFTS) 或 ATR 模式。
拉曼光譜 (Raman):對(duì)碳材料特別敏感。用于表征炭黑的石墨化程度 (D/G 峰強(qiáng)度比),鑒別石墨烯、碳納米管的結(jié)構(gòu)缺陷和有序度。
化學(xué)滴定法:
二、分析流程要點(diǎn)
明確目標(biāo)與樣品信息: 了解樣品來(lái)源(純補(bǔ)強(qiáng)劑?復(fù)合材料?)、應(yīng)用領(lǐng)域、關(guān)注重點(diǎn)(含量?種類(lèi)?分散?表面處理?)。
樣品前處理:
TGA/XRF/灰分: 可直接測(cè)試小塊樣品。
SEM/TEM/FTIR/XRD: 需制備樣品(如斷面、超薄切片、粉末壓片、KBr 壓片)。
BET/粒度分析: 需將補(bǔ)強(qiáng)劑從聚合物中分離(常用溶劑溶解/抽提聚合物或高溫灰化聚合物)。分離過(guò)程需確保不破壞補(bǔ)強(qiáng)劑結(jié)構(gòu)。
純補(bǔ)強(qiáng)劑: 通??芍苯訙y(cè)試。注意干燥除水。
復(fù)合材料:
標(biāo)準(zhǔn)品與對(duì)照: 使用已知牌號(hào)和性質(zhì)的標(biāo)樣進(jìn)行方法驗(yàn)證和結(jié)果比對(duì)至關(guān)重要。
數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)與解讀: 將成分、含量、結(jié)構(gòu)、表面性質(zhì)等數(shù)據(jù)與補(bǔ)強(qiáng)劑的實(shí)際應(yīng)用性能(如橡膠的拉伸強(qiáng)度、耐磨性、動(dòng)態(tài)生熱)關(guān)聯(lián)起來(lái)。
三、總結(jié):
補(bǔ)強(qiáng)劑成分分析是一個(gè)多維度、多技術(shù)協(xié)同的過(guò)程。TGA 是定量的基石,XRD/XRF/FTIR 用于鑒定種類(lèi),SEM/TEM 揭示形貌,BET/吸油值 表征關(guān)鍵物理參數(shù)。 針對(duì)具體材料(炭黑、白炭黑、礦物)和關(guān)注點(diǎn)(含量、結(jié)構(gòu)、表面、分散)選擇合適的分析組合,并結(jié)合知識(shí)和標(biāo)準(zhǔn)品進(jìn)行準(zhǔn)確解讀,才能有效指導(dǎo)材料開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用。


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