淺談電波暗室影響性能指標(biāo)的因素

　? 電波暗室主要用于模擬開(kāi)放場(chǎng)，是用于測(cè)量輻射無(wú)線騷擾（EMI）和輻射靈敏度（EMS）的密封屏蔽室。無(wú)班房間的大小和射頻吸收材料的挑選主要由測(cè)試設(shè)備（EUT）的外行大小和測(cè)試要求（1m方法、3m方法或10m方法）決定。

影響電波暗室性能指標(biāo)的主要因素包括暗室參數(shù)、天線測(cè)量偏差。 電波暗室的電氣系統(tǒng)性能分析指標(biāo)主要由靜態(tài)工作區(qū)域的特色來(lái)表征。靜態(tài)區(qū)域的特性由靜態(tài)區(qū)域的大小、靜態(tài)區(qū)域的反射水平、交叉化、場(chǎng)均勻性、路徑損耗、固有雷達(dá)截面和工作頻率范圍來(lái)解釋。

影響暗室性能指標(biāo)的因素多種多樣、復(fù)雜。利用光線輻射法和能量物理定律模擬暗室性能時(shí)，需要進(jìn)行考慮通過(guò)無(wú)線電波的傳輸解耦、解耦、標(biāo)準(zhǔn)以及天線的圖案主要因素、吸收學(xué)習(xí)材料技術(shù)本身的垂直入射性能和傾斜入射性能、多重反射等影響。

1）交叉化度：暗室結(jié)構(gòu)的不嚴(yán)格要求對(duì)稱(chēng)、吸收學(xué)習(xí)材料對(duì)各種社會(huì)化波吸收的不一致、暗室測(cè)試管理系統(tǒng)等造成暗室傳播發(fā)展過(guò)程當(dāng)中信息傳播國(guó)家的現(xiàn)象。當(dāng)測(cè)試天線是正交的，與傳輸天線的屏幕平行時(shí)，如果測(cè)試場(chǎng)的強(qiáng)度比小于-25dB，則認(rèn)為交叉化符合要求。

2）多路徑數(shù)據(jù)損失：路徑進(jìn)行損失分布不均勻時(shí)，電磁波的屏幕會(huì)旋轉(zhuǎn)，如果我們隨后通過(guò)旋轉(zhuǎn)待測(cè)試波方向的天線，接收控制信號(hào)的起伏不高于-0.25 dB，則可以挑選忽略多路徑發(fā)展損失。

3)場(chǎng)均勻性: 將待測(cè)天線在暗室靜態(tài)區(qū)沿軸線移動(dòng)，波動(dòng)不高于 -2分貝。在靜態(tài)區(qū)域的截面上，水平和上下移動(dòng)需要接收信號(hào)起伏的測(cè)量目標(biāo)天線，范圍在-0.25 dB以下。

2、天線測(cè)量錯(cuò)誤

1）由于有限的測(cè)試距離而造成的錯(cuò)誤

要測(cè)量的平面天線是沿主光束的軸接收的波。測(cè)試距離大小后，被測(cè)試天線其他部分接受的字段不可相同，因此有平方根定律相位差。如果要測(cè)試的天線位于源天線遠(yuǎn)區(qū)的邊界2D? 2/處，則相應(yīng)的口徑邊緣和相位中心的字段中有22.5度的相位差。如果測(cè)試距離增加一倍，相位差就會(huì)減少一半。

對(duì)于學(xué)生測(cè)量電波暗室發(fā)展中間旁瓣電平的天線，距離2D2/通常是沒(méi)有足夠的。測(cè)量的增益約為0.06dB。隨著測(cè)試距離的縮短，測(cè)量偏差會(huì)迅速增加，側(cè)襟翼會(huì)合并到主梁和肩部桌面，甚至可能成為一個(gè)整體.通常，0.25 dB的圓錐銷(xiāo)會(huì)將測(cè)量的增益減少到約0.1 dB，旁瓣附近會(huì)出現(xiàn)一些偏差。