西安測(cè)厚儀_武漢測(cè)厚儀_涂層測(cè)厚儀

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西安測(cè)厚儀_武漢測(cè)厚儀_涂層測(cè)厚儀

西安測(cè)厚儀,錫膏測(cè)厚儀,涂層測(cè)厚儀由星楓儀器提供。天津測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、西安測(cè)厚儀是南昌星楓儀器有限公司2014年全新升級(jí)推出的
涂層測(cè)厚儀leeb210
覆層測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法,可無損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度。 涂層測(cè)厚儀leeb210技術(shù)參數(shù): ?型號(hào) leeb 210
測(cè)頭類型 F1
工作原理 磁感應(yīng)
測(cè)量范圍 0~1000μm
低限分辨率 0.1μm
一點(diǎn)校準(zhǔn) ±(3%H+1)
二點(diǎn)校準(zhǔn) ±[(1~3%)H+1]
小曲率半徑mm 凸1.5
小面積直徑mm Φ7
基本臨界厚度mm 0.5
溫度 0~40℃
濕度 20%~90%
磁場(chǎng) 無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境
電源 AAA型堿性電池1.5V兩節(jié)
外形尺寸 115×70×30mm(主機(jī))
重量 130g


leeb242涂層測(cè)厚儀

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