EMC模擬器20KV放電ESD2000靜電

凌世	ESD202B	普銳馬	ESD61002TB
泰思特	ESD-30G	索莘	ESD-20K
遠(yuǎn)方	EMS61000-2B

EMC模擬器20KV放電ESD2000靜電

一體化設(shè)計(jì)（無(wú)機(jī)箱）；
> 溫濕度記錄和保護(hù)；
> 自動(dòng)極性轉(zhuǎn)換；
> 放電模塊可互換，自動(dòng)識(shí)別；
> 電池支持長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試；
> 內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序庫(kù)；
> 智能檢測(cè)空氣放電失效性。



技術(shù)參數(shù)
接觸放電 1000V – 16,000V（±5%）
空氣放電 1000V – 16,000V（±5%）
電壓步進(jìn) 100V
保持時(shí)間 大于 5s
極性 正、負(fù)
RC模塊識(shí)別 自動(dòng)識(shí)別并LCD顯示
溫濕度 內(nèi)置溫濕度計(jì)，記錄和保護(hù)功能
脈沖重復(fù)頻率 單次/0.1/0.2/0.5/1/2/5/10/20Hz
觸發(fā)模式 手動(dòng)&自動(dòng)
脈沖計(jì)數(shù) 1-9999
接觸放電模式 150pF/330 ohm
簡(jiǎn)易程序 依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)等級(jí)進(jìn)行測(cè)試
上升時(shí)間 0.8ns ± 25%
快速啟動(dòng)測(cè)試程序 參數(shù)在線可調(diào)，簡(jiǎn)單迅速，易于操作
評(píng)估程序 進(jìn)行20Hz接觸放電，對(duì)受試設(shè)備的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行評(píng)估
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序 符合 EN/IEC61000-4-2
通用參數(shù)
重量 約1.5kg
環(huán)境溫度 15℃-35℃（操作條件）
相對(duì)濕度 30%-60%（操作條件）
氣壓范圍 86kPa-106kPa

靜電槍 脈沖 雷擊浪涌發(fā)生器PRM61245TA 三合一 一體機(jī) 二手儀器,
組合式干擾發(fā)生器PRM61245A是在EED2007基礎(chǔ)上升級(jí)的第三代產(chǎn)品，是多功能組合測(cè)試儀，是多功能組合機(jī)，包含靜電放電和電快速瞬變脈沖群、雷擊浪涌三項(xiàng)測(cè)試功能；產(chǎn)品符合IEC61000-4-2、4、5和GB/T17626.2、4、5等最新標(biāo)準(zhǔn)。

ESD-2000 ESD-2005 20KV 靜電發(fā)生器 放電槍 EMC模擬發(fā)生器
ESD-2000靜電放電抗擾度測(cè)試儀是上海云鵲電子科技有限公司研制的一種在性能上完全滿足IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試儀。其**靜電電壓可以達(dá)到20kV，足以覆蓋標(biāo)準(zhǔn)中最嚴(yán)酷等級(jí)的靜電電壓要求(第4級(jí)氣隙放電的靜電電壓要求為15kV)，同時(shí)適用于更多的應(yīng)用領(lǐng)域以及未來(lái)新標(biāo)準(zhǔn)的要求。所以ESD-2000靜電放電抗擾度測(cè)試儀可用于絕大多數(shù)電氣與電子設(shè)備對(duì)于靜電放電試驗(yàn)，而且可以保證試驗(yàn)的可比性和再現(xiàn)性。

手持式靜電放電發(fā)生器EDS 16H 16.5KV EMC模擬發(fā)生器 EDS20H 30H,SESD200 16.5kV靜電槍 SCHLODER 二手放電發(fā)生器,
電磁兼容抗擾度測(cè)試設(shè)備 德國(guó)HlLO-TEST可生產(chǎn)全系列高壓和大電流測(cè)試設(shè)備，同時(shí)也可以生產(chǎn)滿足lEC61000-4系列標(biāo)準(zhǔn)的抗擾度 測(cè)試設(shè)備: SESD200，靜電放電測(cè)試儀滿足lEC61000-4-2 滿足 IEC801-2，lEC61000-4-2，EN61000-4-2要求的測(cè)試。 接觸放電：連續(xù)可調(diào)最高可達(dá)8kV 空氣放電：連續(xù)可調(diào)最高可達(dá)5kV CE-TESTER 一體化設(shè)計(jì)的電磁兼容測(cè)試設(shè)備，用于電磁兼容抗抗度測(cè)試 : ? 微處理器控制，前面板LCD菜單顯示 ? ? ? ? ? ? ? ? 手動(dòng)操作，或設(shè)置生成自動(dòng)執(zhí)行的測(cè)試進(jìn)程 內(nèi)置打印接口，可直接打印測(cè)試報(bào)告 光隔離RS232C接口，可由外部計(jì)算機(jī)對(duì)設(shè)備實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制 其中包括 電快速瞬變 滿足 IEC 61000-4-4,EN61000-4-4,VDE 0847-4-4 浪涌 滿足 lEC 61000-4-5,EN610004-5,VDE 08474-4-5 工頻磁場(chǎng) 滿足 lEC 61000-4-8,EN 610004-8,VDE 0847-4-8 脈沖磁場(chǎng) 8/20μs 滿足 lEC 61000-4-9,EN 610004-9,VDE 0847-4-9 電壓跌落與變化 滿足 lEC 61000-4-11 ,EN610004-11 ,VDE 0847-4-11 CE-TESTER也可區(qū)分為以下單元分別應(yīng)用，該單元可在將來(lái)輕松升級(jí)為完整的CE-TEST系統(tǒng): CE-TESTER 1 包括電快速瞬變和浪涌 將來(lái)可提供電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) CE-SURGE 1 只包括浪涌 將來(lái)可提供電快速瞬變和電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) CE-SURGE2 包括浪涌和電壓跌落與變化測(cè)試 將來(lái)可提供電快速瞬變和電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) EFTG4510 電快速瞬變測(cè)試儀 滿足 lEC61000-4-4 所要求的測(cè)試 波形:5/50ns，0.2－4.4kV,脈沖頻率為1kHz-1MHz 可通過(guò)光隔離RS232進(jìn)行控制 CE-SURGE 混合法形發(fā)生器 滿足 lEC61000-4-5，lEEE587，VDE0847-4-5所要求的測(cè)試。 波形為 :電壓1.2/50us 電流為8/20us 可通過(guò)光隔離 RS232 進(jìn)行控制

SESD-200|SESD200 16.5kV靜電槍|SCHLODER|德國(guó)施羅德與施瓦茨
品牌:德國(guó)施羅德與施瓦茨 | SCHLODER
* 內(nèi)置電池或外置電源
* 空氣或接觸放電
* 輸出電壓至16.5kV
* 接觸放電自動(dòng)檢測(cè)接觸情況
* 容易使用

簡(jiǎn)介
SESD 200按IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)要求產(chǎn)生靜電。按IEC標(biāo)準(zhǔn)有以下兩種測(cè)試方式。
空氣放電
空氣放電是將SESD200的圓頭放電咀向被測(cè)物件移近，透過(guò)空氣向被測(cè)物放電。測(cè)試電壓由100V至16500V。放電的瞬間可產(chǎn)生全頻道的干擾電波。
接觸放電
接觸放電是將SESD200的尖頭放電咀接觸被測(cè)物，透過(guò)內(nèi)部的真空開關(guān)向待測(cè)物放電。此方法可減低因速度、力度、濕度和溫度影響。
接觸放電是常用的一種方法，因此法之重復(fù)牲高，只有在不能接觸的倩況下，例如：塑膠外殼，才使用空氣放電。

注意事項(xiàng):如測(cè)試咀未能接觸待測(cè)對(duì)象(例如：表面己氧化) 這樣便無(wú)法觸發(fā)放電。顯示器會(huì)出現(xiàn)"NO CONTACT"字樣。這樣能保證每次放電皆符合標(biāo)準(zhǔn)。

SESD 200 帶箱和配件
ESD 產(chǎn)生器
外置電源和電池
測(cè)試咀
接地電纜
操作手冊(cè)

規(guī)格
產(chǎn)生器
電壓輸出可由數(shù)字式旋鈕調(diào)定
空氣放電測(cè)試模式 0.2 kV 至16.5 kV
接觸放電測(cè)試模式 0.2 kV 至9.0 kV
輸出極牲 正極輸出或負(fù)極輸出
測(cè)試模式 空氣放電或接觸放電
重復(fù)頻率和放電脈沖數(shù)
空氣放電 一次或重復(fù)*
*(重復(fù)頻率取決于被測(cè)物和放電極的距離)
接觸放電 一次, 1 Hz, 2 Hz, 5 Hz, 10 Hz, 20 Hz
固定操作 空氣放電和接觸放電皆可
等候時(shí)間 ≥ 5 秒
預(yù)設(shè)計(jì)數(shù)器 1 - 9999
放電電極 按IEC 1000-4-2標(biāo)準(zhǔn)
電容量 150 pF ± 10% (可按要求改變)
放電電阻 330 W ± 5% (可按要求改變)
操作溫度范圍 0 - 40°攝氏
相對(duì)濕度 0 - 60%
重量 1500g
電源
電壓 230 V AC / 50 Hz
耗用功率 < 50 VA
重量 1200 g
配件
SESD 200 M ESD 模擬配件IEC 61000-4-2 和MIL-STD-883 C (MIL- M-38510, DOD-STD-1686)
SESD 260 光學(xué)接口包括窗口MS-Windows軟件。
SESD 270 ESD磁探針