TR518SII|二手線路板測(cè)試儀規(guī)格|二手線路板測(cè)試儀報(bào)價(jià)

TR518FE二手線路板測(cè)試儀是一款高性能的二手線路板測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子制造、維修和研發(fā)領(lǐng)域。本操作指南旨在幫助用戶快速掌握TR518FE二手線路板測(cè)試儀的基本操作，提高工作效率。

檢查設(shè)備外觀，確保設(shè)備完好無(wú)損，無(wú)明顯破損或變形。
連接設(shè)備電源，開(kāi)啟電源開(kāi)關(guān)，觀察設(shè)備是否正常啟動(dòng)。
準(zhǔn)備待測(cè)線路板，確保線路板符合測(cè)試要求。

將待測(cè)線路板放置在測(cè)試儀的固定位置上，確保線路板與測(cè)試儀接觸良好。
打開(kāi)測(cè)試軟件，選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試程序。根據(jù)待測(cè)線路板的類型和規(guī)格，選擇合適的測(cè)試程序。
設(shè)置測(cè)試參數(shù)。根據(jù)測(cè)試程序的要求，設(shè)置相應(yīng)的測(cè)試參數(shù)，如測(cè)試電壓、測(cè)試電流等。
開(kāi)始測(cè)試。點(diǎn)擊測(cè)試軟件中的“開(kāi)始測(cè)試”按鈕，設(shè)備將自動(dòng)對(duì)線路板進(jìn)行測(cè)試。
觀察測(cè)試結(jié)果。測(cè)試完成后，測(cè)試軟件將顯示測(cè)試結(jié)果。根據(jù)測(cè)試結(jié)果，判斷線路板是否合格。
結(jié)束測(cè)試。測(cè)試完成后，點(diǎn)擊測(cè)試軟件中的“結(jié)束測(cè)試”按鈕，設(shè)備將自動(dòng)關(guān)閉測(cè)試程序。

操作前請(qǐng)仔細(xì)閱讀本操作指南，確保了解設(shè)備的性能和操作要求。
操作過(guò)程中請(qǐng)保持設(shè)備干燥、清潔，避免灰塵和水分進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部。
測(cè)試過(guò)程中請(qǐng)勿隨意觸碰設(shè)備內(nèi)部電路和元件，以免損壞設(shè)備或造成安全隱患。
如遇設(shè)備故障或異常情況，請(qǐng)立即停止操作，并及時(shí)聯(lián)系專業(yè)維修人員進(jìn)行處理。

定期對(duì)設(shè)備進(jìn)行清潔和保養(yǎng)，確保設(shè)備外觀干凈整潔，內(nèi)部元件運(yùn)行正常。
避免在高溫、高濕度或強(qiáng)磁場(chǎng)等惡劣環(huán)境下使用設(shè)備，以免對(duì)設(shè)備造成損壞。
長(zhǎng)期不使用設(shè)備時(shí)，請(qǐng)關(guān)閉電源開(kāi)關(guān)，并將設(shè)備存放在干燥、通風(fēng)的地方。
通過(guò)以上步驟，用戶可以輕松掌握TR518FE二手線路板測(cè)試儀的基本操作。在實(shí)際應(yīng)用中，用戶還可以根據(jù)具體需求選擇更高級(jí)的功能和設(shè)置，以滿足不同的測(cè)試需求。

TR518FV適用于電子制造、電子維修、研發(fā)實(shí)驗(yàn)室等多種場(chǎng)合。在生產(chǎn)線上，它可用于檢測(cè)產(chǎn)品的質(zhì)量；在維修部門，它可用于診斷和修復(fù)電路板故障；在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，它可為新產(chǎn)品的研發(fā)提供測(cè)試支持。

維護(hù)與保養(yǎng)：

為了確保TR518FV的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，用戶應(yīng)定期進(jìn)行設(shè)備的維護(hù)和保養(yǎng)。包括清潔設(shè)備表面、檢查電源線和測(cè)試探頭等部件的完好性、定期進(jìn)行軟件更新等。此外，用戶還應(yīng)遵循設(shè)備的使用說(shuō)明書，避免不當(dāng)操作對(duì)設(shè)備造成損壞。

總之，TR518FV是一款性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)便、高性價(jià)比的二手線路板測(cè)試儀，廣泛應(yīng)用于電子制造和維修行業(yè)

TR518FV是一款高性能的二手線路板測(cè)試儀，廣泛應(yīng)用于電子制造和維修行業(yè)。該設(shè)備采用先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，能夠快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)線路板的各項(xiàng)性能指標(biāo)，為電子產(chǎn)品的生產(chǎn)、研發(fā)和維修提供了重要的技術(shù)支持。

特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)：

高精度測(cè)試：TR518FV具備高精度的測(cè)試能力，能夠準(zhǔn)確測(cè)量線路板的各項(xiàng)參數(shù)，如電壓、電阻、電容等，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。
多功能一體化：該設(shè)備集成了多種測(cè)試功能，如短路測(cè)試、開(kāi)路測(cè)試、元件測(cè)試等，能夠滿足不同用戶的需求。
操作簡(jiǎn)便：TR518FV采用人性化的操作界面和簡(jiǎn)單的操作流程，使用戶能夠輕松上手，提高測(cè)試效率。
高性價(jià)比：作為二手設(shè)備，TR518FV在價(jià)格上相較于全新設(shè)備更具優(yōu)勢(shì)，同時(shí)其性能穩(wěn)定可靠，具有較高的性價(jià)比

TR518FV二手線路板測(cè)試儀規(guī)格及操作指南

一、規(guī)格參數(shù)

尺寸與重量：

尺寸：（長(zhǎng)）xx cm × （寬）xx cm × （高）xx cm
重量：約xx kg
電源要求：

電源電壓：AC 220V ± 10%
電源頻率：50Hz ± 2%
測(cè)試范圍：

支持短路、開(kāi)路、元件等多種測(cè)試模式
可測(cè)試線路板尺寸：（最大）xx cm × xx cm
顯示界面：

高清彩色LCD顯示屏
分辨率：xx x × xx y
測(cè)試精度：

短路檢測(cè)精度：±xx%
開(kāi)路檢測(cè)精度：±xx%
元件測(cè)試精度：±xx%

測(cè)試點(diǎn)數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開(kāi)關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn)
大型主機(jī)(8u):可以每片關(guān)開(kāi)板256點(diǎn)擴(kuò)充至3584點(diǎn)
測(cè)試步驟
步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充
測(cè)試時(shí)間
開(kāi)路/短路測(cè)試:每1000點(diǎn)約1Sec(Typical DUT)
元件測(cè)試:每一元件約0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
測(cè)試范圍
電阻:0.01Ω至40MΩ 電晶體/二極體: 0.1V至9.99V
電容:1.0PF至100mF Zener Diode: 標(biāo)準(zhǔn),0.1V至9.99V,
選配,HV,0.1V至48V
電感:1.0μH至60H
隔離點(diǎn)電路
隔離點(diǎn)自動(dòng)選擇,每測(cè)試步驟5點(diǎn)
測(cè)試值上下限設(shè)定范圍
上限:+1%至9*** 下限:-1%至-***
可測(cè)電路板尺寸
標(biāo)準(zhǔn)配備: 420mm(寬)×300mm(深)×100mm(高)
選購(gòu)配備: 500mm(寬)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求訂做.
主控制電腦
Pentium等級(jí)以上PC
監(jiān)視器
15"顯示器
記憶設(shè)備
80GB以上硬式磁碟機(jī)一臺(tái)
列印機(jī)
標(biāo)準(zhǔn)配備:微型印表機(jī)

Agilent Technologies安捷倫(美國(guó))，Teradyne泰瑞達(dá)(美國(guó))、Check Sum（美國(guó)）、AEROFLEX（美國(guó)）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購(gòu))、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系統(tǒng)（臺(tái)灣）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安碩（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是領(lǐng)導(dǎo)品牌，成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!
定義　在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級(jí)的測(cè)試方法用來(lái)測(cè)試裝配后的電路板上的每個(gè)元器件