線(xiàn)路板測(cè)試儀陽(yáng)泉德律TR518FE測(cè)試板卡型號(hào)

新世代多功能 組裝電 路板 測(cè)試機(jī) ? I C T 第一品牌 ? 行 銷(xiāo)全 球、成 功進(jìn)入日本及歐美 測(cè)試界 ? 資訊大 廠(chǎng)最 佳的選擇 ? 臺(tái)灣 精品標(biāo)志 通 過(guò) ? 功能 超強(qiáng)、品質(zhì) 第一
強(qiáng) 大 的 軟 體作業(yè) 環(huán)境 u 視窗版作業(yè)環(huán)境、人性化界面設(shè)計(jì)、 操作簡(jiǎn)易 u 電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開(kāi)/短路 、Pin Information 及 IC 保護(hù)二極管之 測(cè)試程式 u 電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，自動(dòng)判斷 信號(hào)源及信號(hào)流入方向 u 可網(wǎng)路連線(xiàn)，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè) 試站監(jiān)控程式 u 完整測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料及報(bào)表產(chǎn)生，且自 動(dòng)儲(chǔ)存，不因斷電而遺失數(shù)據(jù) u 系統(tǒng)具自我診斷功能及遠(yuǎn)端遙控功能 u BoardView 功能可即時(shí)顯示不良元件 、針點(diǎn)之位置,方便檢修

● ***的電解電容極性測(cè)試技術(shù)可測(cè)***達(dá)100％。

● 開(kāi)短路及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式自動(dòng)學(xué)習(xí)生成。

● 電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，可達(dá)10個(gè)點(diǎn)。

● 多連板程式自動(dòng)生成功能。

● CMOS+RELAY結(jié)合的開(kāi)關(guān)板設(shè)計(jì)，使測(cè)試既快又穩(wěn)定

● R.L.C相位分離技術(shù)

● 雜散電容OFFSET功能

● 系統(tǒng)自我診斷功能。

● 完整的統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能，資料可自動(dòng)存儲(chǔ)，不因斷電而丟失數(shù)據(jù)。

● 對(duì)小電阻使用特殊四線(xiàn)式測(cè)試模式，可排除探針與電路板之間不穩(wěn)定接觸電阻。

● 應(yīng)用IC Clamping Diode特性，檢測(cè)IC腳位故障及焊接不良。

● 體積小，重量輕，使用靈活，符合高科科技產(chǎn)品輕，薄，短，小的要求

T-518Fv系統(tǒng)規(guī)格

測(cè)試點(diǎn)數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)配備：320點(diǎn)可擴(kuò)充點(diǎn)數(shù)：1024點(diǎn)

測(cè)試時(shí)間 開(kāi)/短路測(cè)試 : 1024點(diǎn)約0.5Sec每一零件 : 1ms ~ 40ms 可調(diào)

測(cè)試步驟 ***制

隔離電路 隔離點(diǎn)自動(dòng)選擇，每測(cè)試步驟10點(diǎn)

CT，In-Circuit Test，是通過(guò)對(duì)在線(xiàn)元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線(xiàn)的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級(jí)的測(cè)試方法用來(lái)測(cè)試裝配后的電路板上的每個(gè)元器件

飛針I(yè)CT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試，優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具，程序開(kāi)發(fā)時(shí)間短。

針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，但對(duì)每種單板需制作專(zhuān)用的針床夾具，夾具制作和程序開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)。